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应用实例为 PC-leptoskop 2050: 笔记型电脑与个人电脑软件statwin 2002, 电脑微型探头和定位装置 |
PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH公司提供膜层测厚仪的探头,它只需和普通电脑的串口线相连。所以普通膜层测厚仪的功能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的通用电脑软件STATWIN 2002来实现。
当启动statwin 2002时,一个真实的涂层测厚仪显示图像就可以显示在个人电脑的屏幕上。 所有功能操作只需一下鼠标或键盘。STATWIN 2002用statwin 2002,可以分批储存和管理几乎数量的测量数据。 文件和归档几乎是无限的。 此外,该软件附带了大量的统计功能,可以实现测量评估和批次。
除了有测量铁磁性基体上非铁磁涂层的厚度(如钢铁上的漆层或铬层)和导电材料上的非导电层涂层的厚度(如非铁金属上的漆层) ,测量范围到1200 μ m的标准探头,我们还有特殊高精度的、能测量不同的小部位或复杂的几何形状的探头,双晶探头可测量厚度高达12.5mm,我们同时还提供完整的配件。
为固定测试有特别的设计,PC-leptoskop 2050是一个的膜层测厚仪。
订货信息
STATWIN 2002电脑软件 2904.001
用于Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0
软件涂层测厚仪 | 2050 Fe Data Set | 2050.901 | 配2050.101探头 | 配置:探头、软件、测试块、校准箔、操作手册、质量证书、手提包 |
软件涂层测厚仪 | 2050 NFe Data Set | 2050.902 | 配2050.101探头 | 配置:探头、软件、测试块、校准箔、操作手册、质量证书、手提包 |
软件包 | PC-software | 2904.001 | STATWIN 2002, PC software for Windows 9x/XP/ME/2000/NT4.0 |
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TT송금 1CNY |
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