JB4040 휴대용 β 및 γ 표면 오염 측정 장비 X 표면 오염 검출기 표면 오염 장비스토어 가기

JB4040 휴대용 β 및 γ 표면 오염 측정 장비 X 표면 오염 검출기 표면 오염 장비

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상세페이지

AAA工厂店表头

一、产品介绍
JB4040型β、γ检测仪,适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行β辐射表面污染检测或X,γ辐射防护监测的理想仪器,该仪器采用单片机控制,LCD液晶显示,读数清晰、操作方便。

 

二、产品参数
1、计数范围:1~106 
2、探测器面积:25cm2
3、灵 敏 度:≥500 CPM/μSv/h
4、剂量率范围:0.01~200.00µSv/h
5、仪器本底:每分钟计数≤130 CPM
6、相对误差:测量范围内相对基本误差≤20%
7、供电电源:2节1.5v普通5号电池,整机电流≤50mA
8、温度范围:-10℃~45℃
9、湿度范围:相对湿度≤90%(40℃)
10、尺寸重量:0.64kg;23×13×4.5(cm)

 

三、产品特点
1、GM探测器阵列,探测效率高
2、便携式设计,重量轻
3、单片机控制,软件功能强
4、LCD液晶显示,会话式操作界面
5、计数率显示CPM、CPS、μSv/h
6、电池失效报警 

工厂店表尾

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