芯片型号：TEM1-12710
外形尺寸：40*40*5.3mm   元件对数 127
导线规格：引线长150±5mm RV标准导线 单头5mm镀锡
内部阻值：1.2~1.3Ω（环境温度23±1℃,1kHZ Ac测试）
最大温差：△Tmax(Qc=0) 66℃以上。
工作电流：Imax=10A
额定电压：DC12V（Vmax：15.4V）
致冷功率：Qcmax 100W
装配压力：85N/cm2
工作环境：温度范围 -55℃～83℃（过高的环境温度将直接影响制冷效率）
封装工艺：四周标准704硅橡胶密封
包装标准：泡沫盒包装,存放条件 环境温度-10℃～40℃
存放条件：-40~60℃

单个重量：23g

器件独有的魅力：

1.基片采用超导铝做基板，打破了常规以氧化铝陶瓷基片的固有模式，在安装过程中有助于焊接，使之与散热器导冷器来一个零距离亲密接触

2.器件以创新型碲化锌为原料，以其卓越的材料优值完美取代碲化铋为原料的主流，这一创新使器件整体的温差值提高了3.5℃，致冷速率比原有器件缩短了10S

3.器件厚度为5.7mm，普通型器件厚度通常为3-4mm之间，器件的PN结单元尺寸由原有的1.4*1.4*1.5mm变为1.4*1.4*2mm,这样有助于增加冷热端之间的距离，减少了热端放热对冷面致冷的影响

4.使用寿命超达40WH,器件经过了以下严密的试验测试，让暴风雨来的更猛烈些吧： 

5-1极性切换试验：  该项试验主要考察热应力对致冷器寿命的影响。
试验方法： 20℃～80℃，正向通电5分钟再反向通电5分钟为一周期。

 5-2 高温存储试验： 该项试验主要考察有害元素扩散对致冷器寿命的影响。
试验方法：公司现在进行90℃和150℃两种高温存储试验。

 5-3低温存储试验： 该项试验主要考察制冷器中各种材料的低温特性。
试验方法：公司现在进行-40℃低温存储试验。

 5-4温度冲击试验： 该项试验主要考察热应力对致冷器寿命的影响。
试验方法：70 ℃(30 min)/ -55 ℃(30min), 转换时间1min， 5个循环

 5-5冲击试验：该项试验主要考察致冷器对外力冲击的承受能力。
试验方法：高度25cm，方向X，Y，Z方向各1回合计3回。